薄膜應力測試系統采用的是非接觸MOS激光技術，除了對薄膜的應力、表面曲率和翹曲測量外，可實現二維應力Mapping成像統計分析；也可以實現應力、曲率隨溫度變化的關系的測試。

　　薄膜應力測試系統的特點包括：

　　1、高精度測量：采用的測量技術和算法，確保測量結果的準確性和可靠性。

　　2、實時監測：能夠實時監測薄膜應力的變化，為科研人員提供實時數據支持。

　　3、多參數測量：除了測量應力外，還可以測量曲率、翹曲等參數，為薄膜材料的研究提供多方面數據。

　　4、無損測量：在測量過程中不會對薄膜材料造成損傷，確保材料的完整性和可用性。

　　薄膜應力測試系統在材料科學、物理學、半導體制造等多個領域都有廣泛應用。例如，在半導體制造中，薄膜應力測試系統可用于測量晶圓上薄膜的應力，以確保晶圓的穩定性和可靠性。此外，隨著技術的進步和需求的增加，薄膜應力測試系統也在不斷發展和完善。未來的發展方向包括提高測量精度、實現實時監測、拓展測量范圍、提高智能化水平等。